Taramalı Elektron Mikroskopları SEM
SEC masaüstü taramalı elektron mikroskobu (SEM) modelleri ile incelemek istediğiniz malzeme ve örnekleri 150.000x büyütme ve 5 nm detay seviyesinde görüntüleyebilirsiniz. SE ve BSE detektör. EDS analizi opsiyonu ve dahası.
SEC Sne-Alpha SEM Masaüstü Taramalı elektron Mikroskobu
Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit. Ut elit tellus, luctus nec ullamcorper mattis, pulvinar dapibus leo.
Taramalı Elektron Mikroskobu Nedir ?
Taramalı elektron mikroskobu (SEM), katı örneklerin yüzeyinde çeşitli sinyaller üretmek için yüksek enerjili elektronlardan oluşan odaklanmış bir ışın kullanır. Elektron-örnek etkileşimlerinden türetilen sinyaller, dış morfoloji (doku), kimyasal bileşim, kristal yapı ve numuneyi oluşturan malzemelerin oryantasyonu da dahil olmak üzere örnek hakkında bilgi ortaya koymaktadır.
Çoğu uygulamada veriler, numunenin yüzeyinin seçilen bir alanı üzerinde toplanır ve bu özelliklerde uzamsal farklılıkları gösteren 2 boyutlu bir görüntü oluşturulur. Genişliği yaklaşık 5 mikron ile 1cm arasında değişen alanlar, geleneksel SEM teknikleri kullanılarak bir tarama modunda görüntülenebilir.
Kullanım Yerleri
SEM rutin olarak nesnelerin şekillerinin (SEI) yüksek çözünürlüklü görüntülerini üretmek ve kimyasal bileşimlerde uzamsal farklılıkları göstermek için kullanılır.
Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz.
1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element “aktivatörleri” (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.
SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm’ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM’ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir.
Güçlü Yanları
SEM rutin olarak nesnelerin şekillerinin (SEI) yüksek çözünürlüklü görüntülerini üretmek ve kimyasal bileşimlerde uzamsal farklılıkları göstermek için kullanılır.
Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz.
1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element “aktivatörleri” (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.
SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm’ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM’ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir.
| Performans | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Model | SNE-4500M-Plus(A) | SNE-4500M-Plus(B) | SNE-4500M | SNE-3000MS | SNE-3200M |
| Çözünürlük | 5nm | 15nm | |||
| Büyütme Oranı | 150,000x | 100,000x | 60,000x | ||
| Dedektör | SE | SE/BSE | SE | SE/BSE | |
| Vakum | Yüksek | Yüksek/Düşük | Yüksek | Yüksek/Düşük | |
| Sahne | X, Y, R, Z, T : Tam Motorlu | X, Y, R, Z, T : Manuel | X, Y, R : Manuel | ||
| Özellikler | |||||
| Sahne Hareketi | X, Y : 40㎜R : 360ºZ : 0 ~ 40㎜T : -45 ~ 90º | X, Y : 40㎜R : 360º T : 0 ~ 45ºZ : 0 ~ 35㎜ | X, Y : 35㎜ R : 360º | ||
| Maksimum Örnek Boyutu | 80㎜(D) / 50㎜(H) | 80㎜(D) / 35㎜(H) | 70㎜(D) / 30㎜(H) | ||
| Kamera | Top-View Camera | – | – | ||
| O.L Diyafram Türü | 30, 50, 50, 100㎛(Değişken Tipi) | 200㎛(Tek) | |||
| Elektron Kaynağı | Ön merkezli Tungsten Filament Kartuş | ||||
| Hzılandırma Gerilimi | Ekran Modu | ||||
| otomasyon İşlevi | Başlatma, Odaklama, Stigmator, Kontrast ve Parlaklık | ||||
| Resim Formatı | BMP, JPEG, PNG, TIFF | ||||
| Vakum Pompası | Rotary + Turbo Moleküler Pompa (Tamamen Otomasyon Sistemi) | ||||
