Taramalı Elektron Mikroskopları SEM

SEC masaüstü taramalı elektron mikroskobu (SEM) modelleri ile incelemek istediğiniz malzeme ve örnekleri 150.000x büyütme ve 5 nm detay seviyesinde görüntüleyebilirsiniz. SE ve BSE detektör. EDS analizi opsiyonu ve dahası.

sec-sem-banner-2000x405-min

Taramalı Elektron Mikroskobu Nedir ?

asbest-sem-mikroskop-goruntusu

Taramalı elektron mikroskobu (SEM), katı örneklerin yüzeyinde çeşitli sinyaller üretmek için yüksek enerjili elektronlardan oluşan odaklanmış bir ışın kullanır. Elektron-örnek etkileşimlerinden türetilen sinyaller, dış morfoloji (doku), kimyasal bileşim, kristal yapı ve numuneyi oluşturan malzemelerin oryantasyonu da dahil olmak üzere örnek hakkında bilgi ortaya koymaktadır. 

Çoğu uygulamada veriler, numunenin yüzeyinin seçilen bir alanı üzerinde toplanır ve bu özelliklerde uzamsal farklılıkları gösteren 2 boyutlu bir görüntü oluşturulur. Genişliği yaklaşık 5 mikron ile 1cm arasında değişen alanlar, geleneksel SEM teknikleri kullanılarak bir tarama modunda görüntülenebilir.

Kullanım Yerleri

SEM rutin olarak nesnelerin şekillerinin (SEI) yüksek çözünürlüklü görüntülerini üretmek ve kimyasal bileşimlerde uzamsal farklılıkları göstermek için kullanılır.

Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz. 

1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element “aktivatörleri” (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.

SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm’ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM’ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir.

Güçlü Yanları

SEM rutin olarak nesnelerin şekillerinin (SEI) yüksek çözünürlüklü görüntülerini üretmek ve kimyasal bileşimlerde uzamsal farklılıkları göstermek için kullanılır.

Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz.

1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element “aktivatörleri” (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.

SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm’ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM’ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir. 

Performans
ModelSNE-4500M-Plus(A)SNE-4500M-Plus(B)SNE-4500MSNE-3000MSSNE-3200M
Çözünürlük5nm15nm
Büyütme Oranı150,000x100,000x60,000x
DedektörSESE/BSESESE/BSE
VakumYüksekYüksek/DüşükYüksekYüksek/Düşük
SahneX, Y, R, Z, T : Tam MotorluX, Y, R, Z, T : ManuelX, Y, R : Manuel
Özellikler
Sahne HareketiX, Y : 40㎜R : 360ºZ : 0 ~ 40㎜T : -45 ~ 90ºX, Y : 40㎜R : 360º T : 0 ~ 45ºZ : 0 ~ 35㎜X, Y : 35㎜ R : 360º
Maksimum Örnek Boyutu80㎜(D) / 50㎜(H)80㎜(D) / 35㎜(H)70㎜(D) / 30㎜(H)
KameraTop-View Camera
O.L Diyafram Türü30, 50, 50, 100㎛(Değişken Tipi)200㎛(Tek)
Elektron KaynağıÖn merkezli Tungsten Filament Kartuş
Hzılandırma GerilimiEkran Modu
otomasyon İşleviBaşlatma, Odaklama, Stigmator, Kontrast ve Parlaklık
Resim FormatıBMP, JPEG, PNG, TIFF
Vakum PompasıRotary + Turbo Moleküler Pompa (Tamamen Otomasyon Sistemi)