Taramalı Elektron Mikroskopları SEM
SEC masaüstü taramalı elektron mikroskobu (SEM) modelleri ile incelemek istediğiniz malzeme ve örnekleri 150.000x büyütme ve 5 nm detay seviyesinde görüntüleyebilirsiniz. SE ve BSE detektör. EDS analizi opsiyonu ve dahası.
SNE-3000MS
Kolay SEM görüntüleme için optimize edilmiş spektrumlara sahip en ekonomik model.
15nm detay. Maksimum 60.000x büyütme. SE detektör.
15nm detay. Maksimum 60.000x büyütme. SE detektör.
SNE-3200M
SE ve BSE detektörleri ile kapsamlı malzeme analizleri. Yüksek ve düşük vakum sistemi bir arada. İletken olmayan örnekleri metal kaplama yapamadan inceleyebilme. 15nm detay. 60.000x büyütme. EDS opsiyonu ile element analizi.
SNE-4500M
Yüksek çözünürlük gücü, 100.000x'e kadar gerçek zamanlı numune inceleme. 5nm detay. SE Detektör. Standart Değişken Açıklık (30, 50, 100㎛) ve 5 eksen çok yönlü kontrol ile optimum numune konumlandırma kullanılarak son derece küçük özelliklerin veya parçacıkların yüksek kaliteli görüntüleri.
SNE-4500M PLUS
SNE-4500M Plus modeli kullanım kolaylığında en üst seviyededir. Tamamen motorlu kademede hızlı hareket ve üstten bakan kamera ile örnek analiz noktasını bulmak çok kolaydır. SNE-4500M, maksimum 150.000x büyütme, minimum 5nm detay gösterme oranına sahiptir ve geniş aşamalı kompozisyon ile yüzey / kesit analizi için optimize edilmiştir.
Taramalı Elektron Mikroskobu Nedir ?
Taramalı elektron mikroskobu (SEM), katı örneklerin yüzeyinde çeşitli sinyaller üretmek için yüksek enerjili elektronlardan oluşan odaklanmış bir ışın kullanır. Elektron-örnek etkileşimlerinden türetilen sinyaller, dış morfoloji (doku), kimyasal bileşim, kristal yapı ve numuneyi oluşturan malzemelerin oryantasyonu da dahil olmak üzere örnek hakkında bilgi ortaya koymaktadır.
Çoğu uygulamada veriler, numunenin yüzeyinin seçilen bir alanı üzerinde toplanır ve bu özelliklerde uzamsal farklılıkları gösteren 2 boyutlu bir görüntü oluşturulur. Genişliği yaklaşık 5 mikron ile 1cm arasında değişen alanlar, geleneksel SEM teknikleri kullanılarak bir tarama modunda görüntülenebilir.
Çoğu uygulamada veriler, numunenin yüzeyinin seçilen bir alanı üzerinde toplanır ve bu özelliklerde uzamsal farklılıkları gösteren 2 boyutlu bir görüntü oluşturulur. Genişliği yaklaşık 5 mikron ile 1cm arasında değişen alanlar, geleneksel SEM teknikleri kullanılarak bir tarama modunda görüntülenebilir.
Kullanım Yerleri
SEM rutin olarak nesnelerin şekillerinin (SEI) yüksek çözünürlüklü görüntülerini üretmek ve kimyasal bileşimlerde uzamsal farklılıkları göstermek için kullanılır.
Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz.
1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element "aktivatörleri" (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.
SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm'ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM'ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir.
Bunlara örnek olarak şu uygulamaları sayabiliriz.
1.EDS kullanarak temel haritalar veya spot kimyasal analizler elde etmek
2.BSE kullanarak ortalama atom sayısına göre (genellikle bağıl yoğunluk ile ilgili) fazların ayırt edilmesi
3.CL kullanarak iz element "aktivatörleri" (tipik olarak geçiş metali ve Nadir Toprak elementleri) arasındaki farklılıklara dayanan kompozisyon haritaları.
SEM ayrıca, nitel kimyasal analiz ve / veya kristal yapıya dayanan fazları tanımlamak için yaygın olarak kullanılır. SEM kullanılarak çok küçük özelliklerin ve 50 nm'ye kadar olan nesnelerin hassas ölçümü de gerçekleştirilir. Backescattered elektron görüntüleri (BSE), çok fazlı numunelerde fazların hızlı bir şekilde ayırt edilmesi için kullanılabilir. Kırık geri saçılmış elektron dedektörleri (EBSD) ile donatılmış SEM'ler, birçok malzemede mikrofabrik ve kristalografik yönlendirmeyi incelemek için kullanılabilir.
Güçlü Yanları
SEM ile karşılaştırılan katı materyallerin incelenmesinde, uygulamaların genişliğine dair tartışmalı başka bir araç yoktur. SEM, katı malzemelerin karakterizasyonunu gerektiren tüm alanlarda kritik öneme sahiptir. Bu katkı en çok jeolojik uygulamalarla ilgiliyken, bu uygulamaların bu enstrümantasyon için var olan bilimsel ve endüstriyel uygulamaların çok küçük bir alt kümesi olduğunu not etmek önemlidir. Çoğu SEM, kullanıcı dostu "sezgisel" arayüzlerle nispeten kullanımı kolaydır. Pek çok uygulama minimal numune hazırlama gerektirir. Birçok uygulama için veri toplama hızlıdır (SEI, BSE, spot EDS analizleri için 5 dakikadan daha az görüntü.) Modern SEM'ler, dijital formatlarda oldukça taşınabilir olan veri üretir.
| Performans | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Model | SNE-4500M-Plus(A) | SNE-4500M-Plus(B) | SNE-4500M | SNE-3000MS | SNE-3200M |
| Çözünürlük | 5nm | 15nm | |||
| Büyütme Oranı | 150,000x | 100,000x | 60,000x | ||
| Dedektör | SE | SE/BSE | SE | SE/BSE | |
| Vakum | Yüksek | Yüksek/Düşük | Yüksek | Yüksek/Düşük | |
| Sahne | X, Y, R, Z, T : Tam Motorlu | X, Y, R, Z, T : Manuel | X, Y, R : Manuel | ||
| Özellikler | |||||
| Sahne Hareketi | X, Y : 40㎜ R : 360º Z : 0 ~ 40㎜ T : -45 ~ 90º | X, Y : 40㎜ R : 360º T : 0 ~ 45º Z : 0 ~ 35㎜ | X, Y : 35㎜ R : 360º | ||
| Maksimum Örnek Boyutu | 80㎜(D) / 50㎜(H) | 80㎜(D) / 35㎜(H) | 70㎜(D) / 30㎜(H) | ||
| Kamera | Top-View Camera | - | - | ||
| O.L Diyafram Türü | 30, 50, 50, 100㎛(Değişken Tipi) | 200㎛(Tek) | |||
| Elektron Kaynağı | Ön merkezli Tungsten Filament Kartuş | ||||
| Hzılandırma Gerilimi | Ekran Modu | ||||
| otomasyon İşlevi | Başlatma, Odaklama, Stigmator, Kontrast ve Parlaklık | ||||
| Resim Formatı | BMP, JPEG, PNG, TIFF | ||||
| Vakum Pompası | Rotary + Turbo Moleküler Pompa (Tamamen Otomasyon Sistemi) | ||||
- SMD Dizgi Makineleri
- Krem Lehim Baskı Makineleri
- Dalga Lehimleme Makineleri
- Buhar Fazlı Lehimleme Fırınları
- Reflow Fırınları
- Kaplama ve Dispensing Makineleri
- Test Makineleri
- Bölgesel (Selektif) Lehimleme Makineleri
- PCB ve Elek Yıkama Makineleri
- X-Ray İnceleme ve Test Makineleri
- Wirebonder Makineleri
- X-Ray Komponent Sayma Makineleri
- PCB Yüzeyi Temizleme Makinesi
- 3D Yazıcı (Printer) EmergencePro
- PCB panel ayırma (depaneling) makinesi
- PCB Ultrasonik Flukslama Makineleri
- Taramalı Elektron Mikroskopları (SEM)
- İstasyonlu Havya
- Tamir İstasyonları
- Isı Profil Cihazı
- Bondtest Bağlantı Kuvveti Test Cihazi
- İyonik Kontaminasyon Test Sistemleri
- Otomatik Lehimleme Robotları
- PCB Prototip Makinesi
- Vakumlama Makineleri
- Nem Alma Kabinleri
- Mikro Kaynak Cihazları
- Duman Emme Sistemleri
- Konformal Kaplama Çıkarma Cihazı
- Zelflex Gerdirilebilir Elek Çercevesi
- Barkod ve 2D Karekod Okuyucu
- IPA İzopropil Alkol
- Reflow Fırın Temizleyici
- Fluks temizleyici defluxer
- Elek Temizleme Mendili
- Elek Altı Temizleme Rulosu
- Krem Lehim
- Lehim Teli
- Çubuk Lehim
- ICT Test Pinleri
- PCB Koruyucu konformal kaplama
- Nozzle, feeder, yedek parça
- Dalga Lehimleme Paletleri
- Lehim Alma Teli
- Galden PFPE
- Antistatik Esd Ürünler
- Lehim Maskesi (Solder Mask)
- SMD Yapıştırıcı (ThreeBond)
Site içi Arama
Pro SMT Elektronik Merkez Ofis
Adres: Yeşilbağlar Mah., Selvili Sk., No:2, A313, 34893, Pendik, İstanbul
Telefon: +90 216 652 2300
Fax: +90 216 652 1913
E-posta: info(at)prosmt.com
Servis: servis(at)prosmt.com
Satış: satis(at)prosmt.com